產品目錄
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MKY-CSJJ-1可控硅測試夾具
MKY-CSJJ-1可控硅測試夾具 概述 1.1 適用范圍 本測試夾具適用于大電流可控硅和整流元件的電參數測試。 1.2 產品特點 結構簡單牢固、使用方便、易于維修。 2 技術參數 2.1 極板直徑: 100mm、 2.2 行程：40mm 2..3壓力: 10噸 2.4 外型尺寸: 375×165×600mm 2.5 重量: 30kg
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MKY-DBC-352晶閘管少子壽命測試儀
MKY-DBC-352晶閘管少子壽命測試儀 適用范圍及特點 用于測試可控硅或PN結（二極管）的長基區(qū)少子壽命。 數字顯示測試結果，自動測試。 主要參數 少子壽命測量范圍：0.1-99us 外形尺寸：440X440X150mm 整機重量：10kg
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MKY-DBC-094晶閘管關斷時間測試儀
MKY-DBC-094晶閘管關斷時間測試儀 適用范圍及特點 用于測試可控硅的關斷時間。 數字顯示測試結果，自動完成測試。 主要參數 關斷時間測量范圍： 5-500us 外形尺寸：600X600X1250mm 整機重量：32kg
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MKY-DBC-051晶閘管dv/dt測試儀
MKY-DBC-051晶閘管dv/dt測試儀 適用范圍及特點 用于測試普通可控硅、雙向可控硅、快速可控硅和可控硅模塊的斷態(tài)電壓臨界上升率dV/dt。 數字顯示斷態(tài)峰值電壓VDM 。 主要參數 測量范圍： 斷態(tài)峰值電壓VDM 0-2000V； 電壓臨界上升率dV/dt 30-1000V/us 外形尺寸：440X440X150mm 整機重量：15kg
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MKY-DBC-013B晶閘管通態(tài)降壓測試儀
MKY-DBC-013B晶閘管通態(tài)降壓測試儀 適用范圍及特點 主要參數 ◇ 用于測試普通可控硅、雙向可控硅、快速可控硅、可控硅模塊的通態(tài)峰值電流ITM和峰值壓降VTM ◇ 用于測試整流管的正向峰值電流IFM和峰值壓降VFM。 數字顯示測試結果，自動測試。 通態(tài)峰值電流值測試前可準確設定，并具有良好的測試重復性。 峰值電流測量范圍： 100-9000A 峰值壓降測量范圍： 0-7V
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MKY-DBC-013AC晶閘管伏安特性測試儀
MKY-DBC-013AC晶閘管伏安特性測試儀 主要參數 峰值電流測量范圍： 30-3000A 峰值壓降測量范圍： 0-7V 外形尺寸： 440×440×150mm 2箱 整機重量： 35kg
